为什么要做 burn-in
磁盘验收先做读写压测与 SMART 复核：全盘写读扫描或厂商工具测试，通过之后再入阵列。目的是把早期故障盘挡在生产门外——一块盘的问题第一次暴露在阵列重建过程中，代价比验收阶段高得多。
基本信息
| 测试方法 | 全盘写读扫描或厂商专用测试工具 |
|---|---|
| SMART 复核 | 关键属性检查加长测试 |
| 执行顺序 | 先测后入阵列 |
| 留档内容 | 测试结果、耗时与盘序列号 |
| 操作风险 | 写测试会清空盘内全部数据 |
| 适用对象 | 新盘到货、扩容新盘与备件盘 |
| 批量策略 | 抽测比例与判据事前写入验收标准 |
典型使用场景
- 新盘到货：按约定比例抽测或逐盘测试
- 扩容加盘：新盘进入阵列前先过一遍验收
- 故障换盘：备件盘装机前同样要测
- 库存复测：长期存放的盘装机前重新验证
- 根因分析：统计早期故障率，反馈给采购
- 交付留档：测试结果作为验收材料一并提交
SMART 与写读测试
SMART 与写读测试
# SMART 长测试，完成后读取结果
smartctl -t long /dev/sdX
smartctl -a /dev/sdX | grep -iE 'result|error|reallocated' | head
# 全盘写读测试会清空数据，执行前必须确认盘内无业务数据
badblocks -wsv -b 4096 /dev/sdX
# 测完确认盘仍被系统正常识别
lsblk -d -o NAME,SIZE,MODEL | grep -i sd结果判读
| 指标 | 正常表现 | 异常处理 |
|---|---|---|
| 长测试结果 | 正常完成且无错误 | 有错误则复测确认后退回 |
| 重映射扇区 | 为 0 或长期不变 | 持续增长说明盘在劣化 |
| 读写速率 | 与同型号盘接近 | 明显偏低需复测或退回 |
| 测试耗时 | 与容量和盘型匹配 | 异常偏快多为中途出错退出 |
| 盘序列号 | 与到货清单一致 | 对不上说明批次或来源有问题 |
写测试前必须确认盘内没有数据：误操作会直接清空磁盘，且无法恢复。抽测方案也要事先约定，避免现场临时决定测哪几块。
批量验收的抽测比例与判据应当写入验收标准：抽测发现不合格时，通常是整批退回而不是挑着用。