SMART 与写读测试
SMART 与写读测试
smartctl -t long /dev/sdX
smartctl -a /dev/sdX | grep -iE "result|error|reallocated" | head
badblocks -wsv -b 4096 /dev/sdX # 写测试会清空数据，严格按现场流程执行| 方法 | 全盘写读或厂商专用工具 |
|---|---|
| SMART | 关键属性复核与长测试 |
| 顺序 | 先测后入阵列 |
| 记录 | 测试结果与用时留档 |
写测试前必须确认盘内无数据：误操作会直接清空磁盘。